LANLの製造法は、基本的にはフジクラが最初に発表したIBAD法(ion-beam assisted deposition)を踏襲しているが、フジクラ法ではテープが加熱ブロック上を摺動するのに対して、LANL法では加熱ローラと連続ループテープ塗付器を使用する点が異なっている。今迄に得られた最高の性能は、5 mm長の部分でJ_c = 8×10⁵ A/cm²であった。I_c値は、1 cmのテープ長で96 A、12 cm長で70 A、100 cm長で4 Aである。LANLでは、ニッケル合金基盤を使用し、その上に500 nm厚のYSZ層を積層し、さらに1〜2μmのYBCO層を形成している。

　1 cm長の異なるテープでJ_c値を測定したところ、可成のバラツキが観測された。すなわち、最良部分での8×10⁵ A/cm²から最悪部分での2.9×10⁵ A/cm²までバラツイていた。Foltyn博士は、この変動はサンプリング誤差に因るのではないかと考えている、と云うのはテープは完全に均質ではないし、薄い測定用ブリッジを巾広のテープに溶接しなければならないからである。弱い部分の原因が一旦特定できなければ、1000 Aを優に超えるIc値が期待できると云う。今後の進展が期待される。

(こゆるぎ)